原生 TLC 实现 11000 P/E,ATP 更新 N651Si / N651Sc 工业
时间:2025-06-25 17:31 来源:未知 作者:sgxyc888 点击:次
IT之家 6 月 25 日消息,专业存储厂商 ATP 华腾国际昨日宣布,其两系列工业级 PCIe 4.0×4 NVMe 固态硬盘 N651Si / N651Sc 的耐用性从此前的 5000 P/E(IT之家注:编程-擦除循环)提升至 11000 P/E,达到典型水平 3000 P/E 的三倍以上。 ATP 表示,这意味着上述解决方案成为基于 512Gb NAND 封装构建的最高耐用性工业级原生 TLC SSD,是承受写入密集型工作负载的良好选择。 达成 11000 P/E 的背后是优质 NAND 封装、严格的 NAND IC 特性分析、NAND 筛选和验证能力和 ATP 的专有固件、专门硬件配置和自研技术的共同作用。 ATP 表示其多样的测试方法对 NAND 闪存的整体耐用性指标 —— 初始读 / 写操作、耐用性、数据保持力、交叉温度行为、读取干扰特性等 —— 进行了全面评估。 ATP 的 N651Si 固态硬盘提供 M.2 2280、U.2、EDSFF E1.S 外形规格,支持 -40°C ~ 85°C 工作温度范围;而 N651Sc 则是仅有 M.2 版本,工作温度范围 0℃ ~ 70℃。 广告声明:文内含有的对外跳转链接(包括不限于超链接、二维码、口令等形式),用于传递更多信息,节省甄选时间,结果仅供参考,IT之家所有文章均包含本声明。 (责任编辑:sgxyc888) |